K0.5SM软膜直探头/K0.5SM直探头
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- 品牌:GE/通用电气
- 型号:K0.5SM软膜直探头
- 类型:金属探测仪
- 测量范围:0-200
- 频率范围:0.5MHz
- 安装方式:螺旋
- 工作温度:0-60℃
- 分辨率:0.1
- 适用范围:0-200
- 加工定制:否
- 外形尺寸:100-250mm
- 重量:0.5kg
- 品牌:美国GE
接触法探头
接触法直探头, 保护膜,带保护膜探头
?一般检测目的, 简单形状的大零件
?锻件, 铸件
?板材, 棒材, 方型材
?容器, 机器零件, 壳体
?高温检测时带延迟块
性能特征
?欧款有可更换膜:
- 在不平整和曲面上增进耦合
- 延长探头寿命
- 适于DGS缺陷评定
- 可连接高温延迟块
- Lemo?(B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接端口, 标准为侧装, 顶装可选
?美款有三种类型的保护:
- 膜可以在不平整和曲面上增进耦合.
- 耐磨帽定期更换可无期限延长探头寿命
- 高温延迟块可以实现 ?00°F ( ?00°C)表面检测.
- BNC 连接端口, 顶装或侧装
接触法探头
接触探头主要用于手动检测。应用接触法探伤时,需要在测量区域或多个测量区域涂上薄薄的一层耦合剂,然后直接将探头?放置在被测物体表面进行检测。
耦合剂(用于藕合探头和被测物,如油,甘油等)添加在探头?和被测物体之间的空气间隙中,使声波传输进入被测物体。接触法探伤将探头分别放置在各检测点逐点检测,或者在被测?物体表面连续移动探头来完成的。
大?表?面?要?以?某?种?网?状?模?式?进?行?扫?描?检?测?,?网?格?的?宽?度?取?决?于缺陷的程度和检测标准。
如果不能使用耦合剂,那么就要在某些探头上使用耦合帽,它由软塑料制成。
有?两?种?类?型?的?探?头?可?供?检?测?选?用?:?单?探?头?(?图?1 )?和?双?晶?探头?(?图?2 )?。?两?种?探?头?都?是?在?垂?直?于?被?测?物?体?表?面?的?方?向?上
发?射?和?接?收?脉?冲?(?直?探?头?)?,?或?者?是?在?与?被?测?物?体?表?面?成?一?定角度的方向上发射和接收脉冲(斜探头,图3)。
接触式探头的选择标准
对于选用探头没有特别规定时,以下为推荐的探头选用标准供
参考:
首先,要决定选用单探头还是TR探头。如果要探测近表面的缺?陷,那么TR探头更合适些。
其次,就是根据预期的缺陷位置决定使用直探头还是斜探头。
根据声波的镜面反射原理,声束应该垂直入射到反射面。当频
率增加时,这一点必须要特别加以注意。
第三,考虑检测分辨率(声束宽度)。?最后,根据表中给出的数据和给出的探头类别选择,可以依据尺寸、频率、波谱和工作量程等选择最合适的探头.
带可更换保护膜的直探头
B0.5SL
形状与粗晶探头?K0.5S和K1S相同
B2S
设计上与探头相同
MB4S
设计上与MK..S探头相同
B2S-0
形状与K0.5SM和K1SM探头相同
主要特性:
·单晶探头实现声波的发射和接收
·纵波垂直传输
·即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上,由于柔性的抗磨损保护膜而具有稳定的耦合特性
·如果及时地更换保护膜,则探头的磨损可以达到最小
·特殊的粗晶探头,在测试高衰减材料时,利用短脉冲可以达到高信噪比
·由于采用印模压铸成型,因此实际形状具有很高的稳定性
主要应用领域
通常:用于容器或者平行于表面的缺陷探测和评估。可更换的
抗磨损的保护膜可以使得探头在粗糙或轻微弯曲的表面也达到?最好耦合,并防止探头磨损。
:
用于检测中等尺寸和大尺寸物体,它们由于声程长(例如大的
锻?件?或?球?墨?铸?铁?)?而?导?致?声?波?衰?减?严?重?。?它?们?也?适?用?于?检?测
具?有?强?声?波?吸?收?特?性?的?塑?料?材?料?(?例?如?尼?龙?、?特?氟?龙?、?聚?丙?烯),为增加灵敏度和分辨率,可以将保护膜去掉。
K..S和MK..S(粗晶探头):
用于检测粗晶粒中等尺寸和大尺寸物体,这种材料的物体由于
声波的散射作用(例如灰口铸铁、非铁重金属材料或者塑料合
成材料等制成的物体)而使声波衰减严重。?
它们也可以用于检测材料的物理特性(例如建筑材料、岩芯和?半导体材料的特性)。
B..S和MB..S:?这类探头性能参数误差小,对目前大多数的检测任务(例如平?板物、条状物和方形轮廓物体的测试,以及容器和螺钉、螺孔?和外壳等的测试),可以达到最高的精度要求。对于由多种材?料(例如所有的金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料)构成的?形状简单的部件检测也可以达到高精度要求。
带可更换保护膜的直探头
特性:在粗糙表面上具有稳定的耦合性能
带保护膜探头欧洲规格
?
探头型号规格
类型 | D? [mm] | f? [MHz] | AB? [mm] | N? [mm] | EB? [mm] | 备注 |
| ||||||
| ||||||
K0.5S | 34 | 0.5 | 100-250 | 23 | 10 |
|
K1S | 34 | 1 | 50-1350 | 46 | 6 | 高阻抗粗晶粒材料 检测 |
K0.5SM | 28 | 0.5 | 80-145 | 15 | 8 |
|
K1SM | 28 | 1 | 40-780 | 31 | 6 |
|
| ||||||
K1SC | 24 | 1 | 35-1200 | 23 | 6 |
|
K2SC | 24 | 2 | 18-3000 | 45 | 3 | 粗晶粒材料检测,特 别适合于应用ZIP技术 检测塑料材料 |
MK1S | 10 | 1 | 30-350 | 4 | 6 |
|
MK2S | 10 | 2 | 15-700 | 8 | 3 |
|
MK4S | 10 | 4 | 10-1300 | 16 | 2 |
|
?
?
探头型号 | 尺寸 | 英寸 | 频率 | 尺寸 | 英寸 |
B0.5SL | 34 | ? | 0.5 | ? | ? |
B1SL | 34 | ? | 1 | ? | ? |
B2SL | 30 | ? | 2 | ? | ? |
B1S | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 |
B1S-EN | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 |
B1S-O | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 |
B2S | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 |
B2S-EN | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 |
B2S-O | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 |
B2S-O-EN | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 |
B4S | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 |
B4S-EN | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 |
B4S-O | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 |
B4S-O-EN | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 |
B5S | 24 | 0.94 | 5 | 110 | 4.3 |
| |||||
MB2S | 10 | 0.39 | 2 | 8 | 0.3 |
MB2S-EN | 10 | 0.39 | 2 | 8 | 0.3 |
MB2S-O | 10 | 0.39 | 2 | 8 | 0.3 |
MB4S | 10 | 0.39 | 4 | 16 | 0.6 |
MB4S-EN | 10 | 0.39 | 4 | 16 | 0.6 |
MB4S-O | 10 | 0.39 | 4 | 16 | 0.6 |
MB5S | 10 | 0.39 | 5 | 20 | 0.8 |
MB5S-O | 10 | 0.39 | 5 | 20 | 0.8 |
可定制特殊规格探头
?
附件
?
描述 | 类型 | 备注 |
保护膜(1套=10片) | ES45 | 用于B...S |
保护膜(1套=10片) | ES24 | 用于MB...S |
保护膜(1套=10片) | ES57 |
|
保护膜(1套=100片) | ES12 | 用于点焊探头 |
保护膜(1套=100片) | ES14 | 用于点焊探头 |
电缆线 | PKLL2 | 用于B...S |
电缆线 | MPKL2 | 用于MB...S |
GE检测科技 德国KK USM32超声波探伤仪 | 美国泛美 EPOCH 4B超声波探伤仪 |
GE检测科技 德国KK USM33超声波探伤仪 | 美国泛美 EPOCH LT 超声波探伤仪 |
GE检测科技 德国KK USM35XDAC超声波探伤仪 | 美国泛美 EPOCH LTC超声波探伤仪 |
GE检测科技 德国KK USM35XDGS超声波探伤仪 | 美国美国泛美EPOCH X T超声波探伤仪 |
GE检测科技 德国KK USMGO Bac超声波探伤仪 | 美国泛美EPOCH 1000超声波探伤仪 |
GE检测科技 德国KK USMGO AWS超声波探伤仪 | 美国泛美EPOCH 1000I超声波探伤仪 |
GE检测科技 德国KK USMGO DAC超声波探伤仪 | 美国泛美EPOCH 1000IR超声波探伤仪 |
GE检测科技 德国KK USMGO DGS超声波探伤仪 | 美国泛美 Sonic 1200S超声波探伤仪 |
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